research/ellipsometry/WVASE32/Mat/Semicond/tox_nst.mod

   1 Thermal oxide on Si with interface, NIST 632.8nm values\r
   2 3\r
   3 0       'si_nst'        10000000.000000 1.000000\r
   4 0       'intr_nst'      10.000000       1.000000\r
   5 0       'sio2_nst'      250.000000      1.000000\r
   6 0 1 1 1.000000 0 1 1 1.000000\r
   7 ModelOpt\r
   8         0 0 5 0 0 0 0 0.000000 0.000000 0.000000 3.000000 100.000000 45.000000 0.000000 0.000000 0.000000 -90.000000 0.000000 0.000000 0.000000 0.000000 1 0.000000 0.000000 50.000000 0 1 0.000000 0.000000 0.000000 0.000000 30.000000\r
   9 FitParms