thesis/ellipsometry.tex~

   1 \documentclass[10pt]{article}
   2 \usepackage{graphicx}
   3 \usepackage{caption}
   4 \usepackage{amsmath} % needed for math align
   5 \usepackage{bm} % needed for maths bold face
   6  \usepackage{graphicx}    % needed for including graphics e.g. EPS, PS
   7 \usepackage{fancyhdr}   % needed for header
   8 %\usepackage{epstopdf} % Needed for eps graphics
   9 \usepackage{hyperref}
  10 \usepackage{lscape}  % Needed for landscaping stuff - when printing
  11 \usepackage{pdflscape} % Needed for landscaping - in pdf viewer
  12  \topmargin -1.5cm        % read Lamport p.163
  13  \oddsidemargin -0.04cm   % read Lamport p.163
  14  \evensidemargin -0.04cm  % same as oddsidemargin but for left-hand pages
  15  \textwidth 16.59cm
  16  \textheight 21.94cm
  17  %\pagestyle{empty}       % Uncomment if don't want page numbers
  18  \parskip 7.2pt           % sets spacing between paragraphs
  19  %\renewcommand{\baselinestretch}{1.5}  % Uncomment for 1.5 spacing between lines
  20  \parindent 0pt           % sets leading space for paragraphs
  21
  22
  23 \newcommand{\vect}[1]{\boldsymbol{#1}} % Draw a vector
  24 \newcommand{\divg}[1]{\nabla \cdot #1} % divergence
  25 \newcommand{\curl}[1]{\nabla \times #1} % curl
  26 \newcommand{\grad}[1]{\nabla #1} %gradient
  27 \newcommand{\pd}[3][ ]{\frac{\partial^{#1} #2}{\partial #3^{#1}}} %partial derivative
  28 \newcommand{\der}[3][ ]{\frac{d^{#1} #2}{d #3^{#1}}} %full derivative
  29 \newcommand{\phasor}[1]{\tilde{#1}} % make a phasor
  30 \newcommand{\laplacian}[1]{\nabla^2 {#1}} % The laplacian operator
  31
  32 \usepackage{color}
  33 \usepackage{listings}
  34
  35 \definecolor{darkgray}{rgb}{0.95,0.95,0.95}
  36 \definecolor{darkred}{rgb}{0.75,0,0}
  37 \definecolor{darkblue}{rgb}{0,0,0.75}
  38 \definecolor{pink}{rgb}{1,0.5,0.5}
  39 \lstset{language=Java}
  40 \lstset{backgroundcolor=\color{darkgray}}
  41 \lstset{numbers=left, numberstyle=\tiny, stepnumber=1, numbersep=5pt}
  42 \lstset{keywordstyle=\color{darkred}\bfseries}
  43 \lstset{commentstyle=\color{darkblue}}
  44 %\lstset{stringsyle=\color{red}}
  45 \lstset{showstringspaces=false}
  46 \lstset{basicstyle=\small}
  47
  48
  49 \begin{document}
  50
  51 \pagestyle{fancy}
  52 \fancyhead{}
  53 \fancyfoot{}
  54
  55 \fancyhead[LO, L]{}
  56 \fancyfoot[CO, C]{\thepage}
  57
  58 %\title{\bf Characterisation of nanostructured thin films}
  59 %\author{Sam Moore\\ School of Physics, University of Western Australia}
  60 %\date{April 2012}
  61 %\maketitle
  62
  63 \section{Ellipsometry}
  64
  65 \subsection{Description of Method}
  66
  67 Ellipsometry is a versatile optical technique commonly employed for determining the thickness of multilayered thin films \cite{}. In general, ellipsometry measures the parameters $\psi$ and $\Delta$, which are related to the complex Fresnel reflection coefficients $r_s$ and $r_p$:
  68 \begin{align*}
  69         \tan \psi e^{i \Delta} &= \rho = \frac{r_p}{r_s}
  70 \end{align*}
  71 $r_s$ is the
  72
  73
  74 For a bulk substrate (the simplest possible sample), $r_s$ and $r_p$ may be directly related to the optical constants of the material:
  75 \begin{align*}
  76
  77 \end{align*}
  78
  79 \emph{TODO: Multilayered thin films}.
  80
  81 \section{Variable Angle Spectroscopic Ellipsometry}
  82
  83 Traditional ellipsometers were limited to single measurements at a fixed wavelength and angle; the analysis of thin films involved \cite{}.
  84
  85 With the
  86
  87 \subsection{Results}
  88
  89 \subsubsection{Application of Ellipsometry to Multilayered Sample}
  90
  91 \pagebreak
  92 \bibliographystyle{unsrt}
  93 \bibliography{thesis}
  94
  95 \end{document}
  96