research/ellipsometry/2012-09-18/readme

   1 Arrive 12:10pm
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   3 Plan:
   4  - Prepare ellipsometer to take measurements of the Au on Black-Au on Au on Si sample.
   5    - Need to recallibrate ellipsometer; takes about 30 min
   6    - Take data from Si sample for reference
   7    - Take data from Mikhail's sample(s)
   8      - Take data from Jeremy's samples if possible
   9  - Vent chamber, remove Au on Black-Au on Si sample
  10    - Fix height of sample holder(s)
  11    - Install new samples; Si substrate measured by ellipsometer, and one other sample (probably stainless steel)
  12    - Do TCS for increasing thickness of Au on the samples
  13    - Then do TCS for increasing thickness of Black-Au
  14    - Then do TCS for increasing thickness of Au on top
  15    - Finally, repeat ellipsometric measurements on the samples
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  17 - Cooling fan for ellipsometer does not appear to works
  18   - Had polarity of wires wrong
  19   - When I swapped them the right way around, the fan spun up and then broke
  20     - Probably because I had maxed out the voltage on the power supply
  21   - So now it is actually broken
  22   - Will need to get a replacement
  23   - Continue anyway without fan.
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  25 - Take Rp and Rs spectrum of control sample (Si wafer)
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  27 - Realign gun
  28   - Resistance of filament 1.8R
  29 - Realign sample holder
  30   - Check for shorts; everything seems fine
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  32 - Take Rp and Rs spectrum of Au+BlackAu+Au on Si sample
  33 - Also take Psi/Del spectrum
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  35 - Discovered at some point... the sample fell off the sample mount
  36   - Not sure exactly when...
  37   - God dammit
  38   - Will repeat tomorrow
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  40 - Go home at 17:00
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